Modelo de vigilancia tecnol�ogica basado en patrones asociados a factores cr�iticos / autor: Marta Beatriz Infante Abreu ; tutores: Prof. Tit., Ing. Mercedes Delgado Fern�andez, Prof. Tit., Ing. Antonio D�iaz Batista.

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TextoEditor: La Habana : Editorial Universitaria, 2015Descripción: 1 recurso en l�inea (vi, 142 p�aginas) : gr�aficos, tablasTipo de contenido:

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Nota de disertación: Tesis Doctor en Ciencias T�ecnicas Instituto Superior Polit�ecnico "Jos�e Antonio Echeverr�ia" 2013.

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Tesis Doctor en Ciencias T�ecnicas Instituto Superior Polit�ecnico "Jos�e Antonio Echeverr�ia" 2013.

Contiene bibliograf�ia.

Descripci�on basada en recurso en l�inea; T�itulo de la p�agina del t�itulo en PDF (e-libro, visto March 12, 2015).

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